檢測內容：chipping、凸邊等
破損檢測規(guī)格：缺陷尺寸大于0.1mm可檢出
呈像方式：亮場反射式
異物檢測規(guī)格：0.1mm以上可檢出
過檢率：≤3%（過檢NG/總投入）
AOI NG處理方式：NG品通過NG傳送至緩存機構
AOI信息上傳：AOI具備不良標示功能并將檢測信息上傳CIM
設備功能：自動檢測、自動判定功能
檢測內容：邊緣貝殼、破損等缺陷
破損檢測檢測精度：±0. 05mm
重復檢測精度：同一個片產品連續(xù)檢十次，重復能檢出同一個不良
過檢率：≤3%（過檢NG/總投入）
AOI NG處理方式：NG品通過NG傳送至緩存機構
其他功能：分白班、晚班，日產統計到31天，具有統計功能
檢測內容：玻璃邊緣異常的檢驗（凹點、凸點、裂紋）
破損檢測規(guī)格：裂紋長度大于0.05mm可檢出
檢出率：overkill≤2% （能識別臟污，避免臟污導致Overlill）
AOI NG處理方式：NG品通過NG傳送至緩存機構
AOI信息上傳：AOI具備不良標示功能并將檢測信息上傳CIM
拍攝功能：可以清楚拍攝出Panel端子及Panel ID
其他功能：分白班、晚班，日產統計到31天，具有統計功能
檢測內容：① 鐳射路徑偏移量 ② 鐳射路徑寬度 ③ 鐳射區(qū)未鐳斷檢出
④ 鐳射區(qū)臟污檢出 ⑤ 鐳射區(qū)裂紋、貝殼狀檢出
測量點數：≤9段
檢測精度：2-3um
照明方式：正面
換型方式：一鍵切換
檢測內容：邊崩/角崩/裂紋
檢測精度：200μm
異物/殘膠檢測規(guī)格：0.1mm以上可檢出
過檢率：≤3%（過檢NG/總投入）
AOI NG處理方式：NG品通過NG傳送至緩存機構
AOI信息上傳：AOI具備不良標示功能并將檢測信息上傳CIM
