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檢測內(nèi)容:chipping、凸邊等 破損檢測規(guī)格:缺陷尺寸大于0.1mm可檢出 呈像方式:亮場反射式 異物檢測規(guī)格:0.1mm以上可檢出 過檢率:≤3%(過檢NG/總投入) AOI NG處理方式:NG品通過NG傳送至緩存機構(gòu) AOI信息上傳:AOI具備不良標(biāo)示功能并將檢測信息上傳CIM
檢測內(nèi)容:chipping、凸邊等
破損檢測規(guī)格:缺陷尺寸大于0.1mm可檢出 呈像方式:亮場反射式 異物檢測規(guī)格:0.1mm以上可檢出 過檢率:≤3%(過檢NG/總投入) AOI NG處理方式:NG品通過NG傳送至緩存機構(gòu) AOI信息上傳:AOI具備不良標(biāo)示功能并將檢測信息上傳CIM
設(shè)備功能:自動檢測、自動判定功能 檢測內(nèi)容:邊緣貝殼、破損等缺陷 破損檢測檢測精度:±0. 05mm 重復(fù)檢測精度:同一個片產(chǎn)品連續(xù)檢十次,重復(fù)能檢出同一個不良 過檢率:≤3%(過檢NG/總投入) AOI NG處理方式:NG品通過NG傳送至緩存機構(gòu) 其他功能:分白班、晚班,日產(chǎn)統(tǒng)計到31天,具有統(tǒng)計功能
設(shè)備功能:自動檢測、自動判定功能
檢測內(nèi)容:邊緣貝殼、破損等缺陷
破損檢測檢測精度:±0. 05mm 重復(fù)檢測精度:同一個片產(chǎn)品連續(xù)檢十次,重復(fù)能檢出同一個不良
過檢率:≤3%(過檢NG/總投入) AOI NG處理方式:NG品通過NG傳送至緩存機構(gòu) 其他功能:分白班、晚班,日產(chǎn)統(tǒng)計到31天,具有統(tǒng)計功能
檢測內(nèi)容:玻璃邊緣異常的檢驗(凹點、凸點、裂紋) 破損檢測規(guī)格:裂紋長度大于0.05mm可檢出 檢出率:overkill≤2% (能識別臟污,避免臟污導(dǎo)致Overlill) AOI NG處理方式:NG品通過NG傳送至緩存機構(gòu) AOI信息上傳:AOI具備不良標(biāo)示功能并將檢測信息上傳CIM 拍攝功能:可以清楚拍攝出Panel端子及Panel ID 其他功能:分白班、晚班,日產(chǎn)統(tǒng)計到31天,具有統(tǒng)計功能
檢測內(nèi)容:玻璃邊緣異常的檢驗(凹點、凸點、裂紋)
破損檢測規(guī)格:裂紋長度大于0.05mm可檢出 檢出率:overkill≤2% (能識別臟污,避免臟污導(dǎo)致Overlill) AOI NG處理方式:NG品通過NG傳送至緩存機構(gòu) AOI信息上傳:AOI具備不良標(biāo)示功能并將檢測信息上傳CIM
拍攝功能:可以清楚拍攝出Panel端子及Panel ID
其他功能:分白班、晚班,日產(chǎn)統(tǒng)計到31天,具有統(tǒng)計功能
檢測內(nèi)容:① 鐳射路徑偏移量 ② 鐳射路徑寬度 ③ 鐳射區(qū)未鐳斷檢出 ④ 鐳射區(qū)臟污檢出 ⑤ 鐳射區(qū)裂紋、貝殼狀檢出 測量點數(shù):≤9段 檢測精度:2-3um 照明方式:正面 換型方式:一鍵切換
檢測內(nèi)容:① 鐳射路徑偏移量 ② 鐳射路徑寬度 ③ 鐳射區(qū)未鐳斷檢出 ④ 鐳射區(qū)臟污檢出 ⑤ 鐳射區(qū)裂紋、貝殼狀檢出 測量點數(shù):≤9段 檢測精度:2-3um 照明方式:正面
換型方式:一鍵切換
檢測內(nèi)容:邊崩/角崩/裂紋 檢測精度:200μm 異物/殘膠檢測規(guī)格:0.1mm以上可檢出 過檢率:≤3%(過檢NG/總投入) AOI NG處理方式:NG品通過NG傳送至緩存機構(gòu) AOI信息上傳:AOI具備不良標(biāo)示功能并將檢測信息上傳CIM
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